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X射线仪器
布鲁克S2 PICOFOX全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)
布鲁克艺术与考古分析仪Tracer
微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO
布鲁克手持式矿石分析仪S1 TITAN
超轻元素微区X射线荧光成像光谱仪M4 TORNADO PLUS
Bruker布鲁克便携仪式XRF分析仪CTX
微聚焦荧光光谱仪M6 JETSTREAM
Bruker布鲁克便携式微区X射线荧光光谱仪ARTAX
全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)S4 TStar
Bruker布鲁克废旧金属分析仪/手持光谱仪
测厚仪
大尺寸镀层测厚仪M2 BLIZZARD
M1 ORA微区X射线荧光光谱仪
涂层测厚仪SURFIX®X系列
涂层测厚仪SURFIX®系列
涂层测厚仪SURFIX®简易系列
便携式涂层测厚仪
涂层测厚仪探头
显微反射膜厚仪MProbe MSP
MProbe NIR薄膜测厚仪
反射膜厚仪MProbe RT
光学仪器及设备
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM select
原子力显微镜MultiMode8
马尔共聚焦显微镜MarSurf CL select
马尔共聚焦显微镜MarSurf CP select
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM mobile
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM expert
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM explorer
3D扫描仪SMARTTECH Criminology
原子力显微镜Dimension FastScan
扫描探针显微镜Innova
光谱检测分析仪
布鲁克/超轻便型直读光谱仪Q2 ION
手持式激光诱导击穿光谱HH-LIBS
布鲁克直读光谱仪/移动火花光谱仪Q4 MOBILE
台式直读光谱仪
布鲁克/直读光谱仪Q8 MAGELLAN
布鲁克/直读光谱仪Q4 TASMAN
测量/计量仪器
Dektak XT台阶仪
布鲁克光学轮廓仪ContourGT-X
探针式轮廓仪系统Dektak XTL
布鲁克台阶仪-表面轮廓仪
三维表面测量系统NP Flex
光学轮廓仪系统ContourGT-I
农业和食品专用仪器
S1 TITAN布鲁克手持式土壤测定仪/手持XRF分析仪
布鲁克S1 TITAN手持式土壤荧光光谱仪
进口便携式XRF土壤检测仪/手持光谱仪
德国bruker进口布鲁克土壤重金属分析仪
手持式土壤重金属分析仪
比表面积测定仪
漆膜附着力测试
硅片表面形貌测量VIT系列
晶圆厚度测量系统FSM - FSM 413
摩擦磨损仪CETR-UMT
微纳米压痕划痕检测仪CETR-Apex
元素分析仪
TXRF血液重金属检测
手持贵金属分析仪
碳硫分析仪G5 CRIUS
扩散氢分析仪G4 PHOENIX DH
氧氮氢分析仪G8 GALILEO
其他
电荷灵敏前置放大器CUBE
1500V光伏组串检测仪Solar Utility Pro
低真空镀膜仪CCU-O10LV
高真空镀膜仪CCU-O10HV
无损检测/无损探伤仪器
X射线透工业CT
X射线CT系统EasyTomXL
X射线CT系统EasyTom
相关仪表
DANTE数字脉冲处理器
图像扫面仪SmartCIS
钻井信息系统SmartDIS
水质分析
便携式水质重金属检测仪5000
重金属含量检测仪
热分析仪
热重分析仪/差示扫描量热仪DSC8231
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产品系列
产品描述
微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析方法。
M4 TORNADO采用了技术,为各种用户提供了佳的分析性能和方便的操控性。
· 采用多导毛细管聚焦镜,照射光斑小,空间分辨率高。
· 涡轮增速X-Y-Z样品台,借助放大倍数可变的摄像系统获得的样品影像,可在“飞行中”进行元素分布分析。
· 通过可选的双X射线光管和多6个滤光片进行灵活的激发。
· 使用XFlash®探测器高速地获取样品图谱,另外,使用多个探测器可以进一步提高测量速度。
· 基于无标样分析法准确定量分析块状样品,准确分析多层膜样品。
· 具有便捷进样功能的可抽真空的样品室
行业应用:
1.地球科学(岩心、岩石、沉淀物、微体化石、年轮等多元素分布成像、行扫描与相序分析。)
2.司法鉴定、法医及痕量分析(对衣物上的弹孔进行射击残留物GSR分析)
3.艺术与考古(对文物进行颜料、色料的成分分析,修复文物)
4.质量控制与故障分析仪(电子和电子部件元素分析,ROHS分析)
5.发动机部件、电机/润滑油(识别电机/润滑油中的发动机磨损产物)
6.生命科学(检查树木横断面/叶子/树根年轮)
7.材料科学(钢材腐蚀检验)
8.环境科学(土壤重金属、污水污泥重金属分析、空气和城市废物)
9.过滤器上的薄膜(空气滤膜)