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X射线仪器
布鲁克S2 PICOFOX全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)
布鲁克艺术与考古分析仪Tracer
微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO
布鲁克手持式矿石分析仪S1 TITAN
超轻元素微区X射线荧光成像光谱仪M4 TORNADO PLUS
Bruker布鲁克便携仪式XRF分析仪CTX
微聚焦荧光光谱仪M6 JETSTREAM
Bruker布鲁克便携式微区X射线荧光光谱仪ARTAX
全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)S4 TStar
Bruker布鲁克废旧金属分析仪/手持光谱仪
测厚仪
大尺寸镀层测厚仪M2 BLIZZARD
M1 ORA微区X射线荧光光谱仪
涂层测厚仪SURFIX®X系列
涂层测厚仪SURFIX®系列
涂层测厚仪SURFIX®简易系列
便携式涂层测厚仪
涂层测厚仪探头
显微反射膜厚仪MProbe MSP
MProbe NIR薄膜测厚仪
反射膜厚仪MProbe RT
光学仪器及设备
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM select
原子力显微镜MultiMode8
马尔共聚焦显微镜MarSurf CL select
马尔共聚焦显微镜MarSurf CP select
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM mobile
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM expert
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM explorer
3D扫描仪SMARTTECH Criminology
原子力显微镜Dimension FastScan
扫描探针显微镜Innova
测量/计量仪器
Dektak XT台阶仪
布鲁克光学轮廓仪ContourGT-X
探针式轮廓仪系统Dektak XTL
布鲁克台阶仪-表面轮廓仪
三维表面测量系统NP Flex
光学轮廓仪系统ContourGT-I
光谱检测分析仪
布鲁克/超轻便型直读光谱仪Q2 ION
手持式激光诱导击穿光谱HH-LIBS
布鲁克直读光谱仪/移动火花光谱仪Q4 MOBILE
台式直读光谱仪
布鲁克/直读光谱仪Q8 MAGELLAN
布鲁克/直读光谱仪Q4 TASMAN
农业和食品专用仪器
S1 TITAN布鲁克手持式土壤测定仪/手持XRF分析仪
布鲁克S1 TITAN手持式土壤荧光光谱仪
进口便携式XRF土壤检测仪/手持光谱仪
德国bruker进口布鲁克土壤重金属分析仪
手持式土壤重金属分析仪
比表面积测定仪
漆膜附着力测试
硅片表面形貌测量VIT系列
晶圆厚度测量系统FSM - FSM 413
摩擦磨损仪CETR-UMT
微纳米压痕划痕检测仪CETR-Apex
元素分析仪
TXRF血液重金属检测
手持贵金属分析仪
碳硫分析仪G5 CRIUS
扩散氢分析仪G4 PHOENIX DH
氧氮氢分析仪G8 GALILEO
其他
电荷灵敏前置放大器CUBE
1500V光伏组串检测仪Solar Utility Pro
低真空镀膜仪CCU-O10LV
高真空镀膜仪CCU-O10HV
无损检测/无损探伤仪器
X射线透工业CT
X射线CT系统EasyTomXL
X射线CT系统EasyTom
相关仪表
DANTE数字脉冲处理器
图像扫面仪SmartCIS
钻井信息系统SmartDIS
水质分析
便携式水质重金属检测仪5000
重金属含量检测仪
热分析仪
热重分析仪/差示扫描量热仪DSC8231
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产品系列
严格质量保证与质量控制下,获得300毫米优性能探测
布鲁克公司的新型Dektak XTL探针式轮廓仪系统可容纳多大350mm*350mm的样品,将Dektak有意的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片及面板制造业。Dektak XTL集成气体隔振装置和方便的交互锁装置使仪器在全封闭工作环境下运行,是当今要求苛刻的生产环境的理想之选。它的双摄像头设置使空间感增强,其高水平自动化可提高生产量。
探针式轮廓仪系统Dektak XTL产品特性
· Bruker公司的双摄像头控制系统
1.通过点击实时视频更快锁定到关注点
2.通过选择实时视频中的两个点快速定位样品(自动旋转使连线水平)
3.通过在实时视频中点击扫描起始和结束位置简化测量设置(教学)
· 可靠的自动化设置和操作
1.借助300毫米的自动化编码XY工作台以及360度旋转能力,编程控制无限制测量位置。
2.利用带图形识别功能的Vision64位产品软件大程度减少使用中的定位偏差
3.将自定义用户提示以及其它元数据编入您的方案中,并存储到数据库内
· 方便的分析和数据采集
1.快速分析仪支持大部分常用分析方法,可轻松实现分析程序自动化
2.通过台阶检测功能将分析集中于复杂样品上感兴趣的特征
3.通过赋予每个测量点名称并自动记录到数据库来简化数据分析
4.Dektak在大样品制造业中的传奇性能
业界自动分析软件
新增软件功能使Dektak XTL成为市面上强大、易使用的探针式轮廓仪。系统使用的Vision64软件,与Bruker公司的光学轮廓仪完全兼容。Vision64软件可以进行样品任何位置测量、3D绘图以及借助数百个内置分析工具实现的高度定制表征方法。也可以使用Vision Microform软件来测量曲率半径等形状。
探针式检测技术
图形识别功能可以尽量减少操作员误差并提高测量位置精度。在同一软件包内,以直观流程进行数据采集和2D、3D分析。每个系统都带有Vision软件许可证,可在装有Windows7操作系统的个人电脑上安装,用户可在电脑桌面上创建数据分析和报告。
Dektak XTL拥有超过40年的探针专业经验和软件定制生产经验,符合现在和未来的严格的行业发展蓝图。
探针式轮廓仪系统Dektak XTL应用
晶片应用:沉积薄膜(金属、有机物)的台阶高度
抗蚀剂(软膜材料)的台阶高度
蚀刻速率测定
化学机械抛光(腐蚀,凹陷,弯曲)
大型基板应用:
印刷电路板(凸起、台阶高度)
窗口涂层
晶片掩模
晶片卡盘涂料
抛光板
玻璃基板及显示器应用:
AMOLED
液晶屏研发的台阶步级高度测量
触控面板薄膜厚度测量
太阳能涂层薄膜测量
柔性电子器件薄膜:
有机光电探测器
印于薄膜和玻璃上的有机薄膜
触摸屏铜迹线