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X射线仪器
布鲁克S2 PICOFOX全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)
布鲁克艺术与考古分析仪Tracer
微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO
布鲁克手持式矿石分析仪S1 TITAN
超轻元素微区X射线荧光成像光谱仪M4 TORNADO PLUS
Bruker布鲁克便携仪式XRF分析仪CTX
微聚焦荧光光谱仪M6 JETSTREAM
Bruker布鲁克便携式微区X射线荧光光谱仪ARTAX
全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)S4 TStar
Bruker布鲁克废旧金属分析仪/手持光谱仪
测厚仪
大尺寸镀层测厚仪M2 BLIZZARD
M1 ORA微区X射线荧光光谱仪
涂层测厚仪SURFIX®X系列
涂层测厚仪SURFIX®系列
涂层测厚仪SURFIX®简易系列
便携式涂层测厚仪
涂层测厚仪探头
显微反射膜厚仪MProbe MSP
MProbe NIR薄膜测厚仪
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光学仪器及设备
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM select
原子力显微镜MultiMode8
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马尔共聚焦显微镜MarSurf CP select
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM mobile
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM expert
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3D扫描仪SMARTTECH Criminology
原子力显微镜Dimension FastScan
扫描探针显微镜Innova
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Dektak XT台阶仪
布鲁克光学轮廓仪ContourGT-X
探针式轮廓仪系统Dektak XTL
布鲁克台阶仪-表面轮廓仪
三维表面测量系统NP Flex
光学轮廓仪系统ContourGT-I
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布鲁克/超轻便型直读光谱仪Q2 ION
手持式激光诱导击穿光谱HH-LIBS
布鲁克直读光谱仪/移动火花光谱仪Q4 MOBILE
台式直读光谱仪
布鲁克/直读光谱仪Q8 MAGELLAN
布鲁克/直读光谱仪Q4 TASMAN
农业和食品专用仪器
S1 TITAN布鲁克手持式土壤测定仪/手持XRF分析仪
布鲁克S1 TITAN手持式土壤荧光光谱仪
进口便携式XRF土壤检测仪/手持光谱仪
德国bruker进口布鲁克土壤重金属分析仪
手持式土壤重金属分析仪
比表面积测定仪
漆膜附着力测试
硅片表面形貌测量VIT系列
晶圆厚度测量系统FSM - FSM 413
摩擦磨损仪CETR-UMT
微纳米压痕划痕检测仪CETR-Apex
元素分析仪
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手持贵金属分析仪
碳硫分析仪G5 CRIUS
扩散氢分析仪G4 PHOENIX DH
氧氮氢分析仪G8 GALILEO
其他
电荷灵敏前置放大器CUBE
1500V光伏组串检测仪Solar Utility Pro
低真空镀膜仪CCU-O10LV
高真空镀膜仪CCU-O10HV
无损检测/无损探伤仪器
X射线透工业CT
X射线CT系统EasyTomXL
X射线CT系统EasyTom
相关仪表
DANTE数字脉冲处理器
图像扫面仪SmartCIS
钻井信息系统SmartDIS
水质分析
便携式水质重金属检测仪5000
重金属含量检测仪
热分析仪
热重分析仪/差示扫描量热仪DSC8231
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产品系列
产品描述
M1 ORA是专门适用于珠宝行业的台式微区X射线荧光光谱仪(μ-XRF),结构紧凑、占用空间小。
M1 ORA能准确测定珠宝类合金的元素组成,分析元素范围:原子序数22号(钛)以上的所有元素。
上照式光管,光板尺寸小至0.3mm,可以对复杂式样的样品进行非接触、非破坏性的分析,数分钟内就可以得到结果。
样品尺寸大可达100×100×100mm,无需任何处理,直接放在样品台上检测,采用光学显微镜进行准确定位。
采用大感应面积的正比计数器接收样品发出的荧光信号。采集的信号越多,分析结果越准确。可以检测含量在0.5%以上的元素
基于标样模型或无标样模型,可以鉴别和定量分析样品中的所有元素。准确度高,达到0.2wt%对于没有预想到的元素也能够进行分析。
珠宝、黄金、贵金属分析
X射线荧光光谱仪是非基础和非破坏性分析,同时能够得到高准确度测试结果的分析方法
由于珠宝首饰件通常都非常的小,又有些是采用不同贵金属组合,X射线荧光光谱仪分析过程能采用仪器内的准直器将激发的X射线集中于一小点。
行业应用:
X射线荧光光谱仪测量可广泛适用于大量的黄金合金系列,可测量材料包括金、银、铜、钯、铂、铑等贵金属元素
黄金成分范围35%(8克拉/K)(24克拉/K)
适用于:白金、黄金、铂合金、银合金,分析精度优于0.2%