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X射线仪器
布鲁克S2 PICOFOX全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)
布鲁克艺术与考古分析仪Tracer
微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO
布鲁克手持式矿石分析仪S1 TITAN
超轻元素微区X射线荧光成像光谱仪M4 TORNADO PLUS
Bruker布鲁克便携仪式XRF分析仪CTX
微聚焦荧光光谱仪M6 JETSTREAM
Bruker布鲁克便携式微区X射线荧光光谱仪ARTAX
全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)S4 TStar
Bruker布鲁克废旧金属分析仪/手持光谱仪
测厚仪
大尺寸镀层测厚仪M2 BLIZZARD
M1 ORA微区X射线荧光光谱仪
涂层测厚仪SURFIX®X系列
涂层测厚仪SURFIX®系列
涂层测厚仪SURFIX®简易系列
便携式涂层测厚仪
涂层测厚仪探头
显微反射膜厚仪MProbe MSP
MProbe NIR薄膜测厚仪
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光学仪器及设备
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM select
原子力显微镜MultiMode8
马尔共聚焦显微镜MarSurf CL select
马尔共聚焦显微镜MarSurf CP select
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM mobile
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM expert
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM explorer
3D扫描仪SMARTTECH Criminology
原子力显微镜Dimension FastScan
扫描探针显微镜Innova
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布鲁克/超轻便型直读光谱仪Q2 ION
手持式激光诱导击穿光谱HH-LIBS
布鲁克直读光谱仪/移动火花光谱仪Q4 MOBILE
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布鲁克/直读光谱仪Q8 MAGELLAN
布鲁克/直读光谱仪Q4 TASMAN
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Dektak XT台阶仪
布鲁克光学轮廓仪ContourGT-X
探针式轮廓仪系统Dektak XTL
布鲁克台阶仪-表面轮廓仪
三维表面测量系统NP Flex
光学轮廓仪系统ContourGT-I
农业和食品专用仪器
S1 TITAN布鲁克手持式土壤测定仪/手持XRF分析仪
布鲁克S1 TITAN手持式土壤荧光光谱仪
进口便携式XRF土壤检测仪/手持光谱仪
德国bruker进口布鲁克土壤重金属分析仪
手持式土壤重金属分析仪
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漆膜附着力测试
硅片表面形貌测量VIT系列
晶圆厚度测量系统FSM - FSM 413
摩擦磨损仪CETR-UMT
微纳米压痕划痕检测仪CETR-Apex
元素分析仪
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碳硫分析仪G5 CRIUS
扩散氢分析仪G4 PHOENIX DH
氧氮氢分析仪G8 GALILEO
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电荷灵敏前置放大器CUBE
1500V光伏组串检测仪Solar Utility Pro
低真空镀膜仪CCU-O10LV
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无损检测/无损探伤仪器
X射线透工业CT
X射线CT系统EasyTomXL
X射线CT系统EasyTom
相关仪表
DANTE数字脉冲处理器
图像扫面仪SmartCIS
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水质分析
便携式水质重金属检测仪5000
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热重分析仪/差示扫描量热仪DSC8231
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产品系列
产品描述
为大尺寸工件加工提供非接触准确测量布鲁克的NPFlex 三维表面测量系统为大样品的表面表征测量提供了灵活的非接触式的方案,可广泛用于医疗植入,航空航天、汽车或加工上的大型、异型工件的测量。基于白光干涉原理,NPFlex 为用户提供超过接触式方法所能达到的更大数据量、更高分辨率和更好的重复性,使它成为互补型的测量方案。
开放式的龙门设计克服了以往某些零件由于角度或取向造成的测量困难,现在NPFlex可实现超过300度的测量空间。NPFlex的灵活性、数据准确性和测试效率为加工行业提供了一种简单的方法,来实现其更苛刻的加工要求、加工工艺和更好的终端产品。
布鲁克NPFLEX 三维表面测量系统为大样品的表面表征测量提供了灵活的非接触式的方案,超过300度的测量空间,克服了以往由于零件某些角度或取向问题造成的测量困难。NPFLEX是第yi台针对大型、异型工件进行非接触测量,获得微米级、毫米级样品形貌特征的三维表面测量系统。
其灵活性表现在可用于测量表征更大的面型和更难测的角度
· 空间设计使得可测零件(样品)更大、形状更多
· 开放式龙门、定制的夹具和可选的摇摆测量头可轻松测量想测部位
三维表面信息测量
· 每次测量均可获取多种分析结果
· 更容易获得更多的测量数据来帮助分析
垂直方向可达纳米级分辨率,提供更多的细节
· 干涉技术实现每一个测量象素点上亚纳米级垂直分辨率
· 工业界使用多年业已验证的干涉技术提供具有统计意义的数据,为日渐苛刻的加工工艺提供
快速获取测量数据,测试过程迅速
· 少的样品准备时间和测量准备时间
· 比接触法测量(一条线)更大的视场(一个面)获得表面更多的数据