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X射线仪器
布鲁克S2 PICOFOX全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)
布鲁克艺术与考古分析仪Tracer
微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO
布鲁克手持式矿石分析仪S1 TITAN
超轻元素微区X射线荧光成像光谱仪M4 TORNADO PLUS
Bruker布鲁克便携仪式XRF分析仪CTX
微聚焦荧光光谱仪M6 JETSTREAM
Bruker布鲁克便携式微区X射线荧光光谱仪ARTAX
全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)S4 TStar
Bruker布鲁克废旧金属分析仪/手持光谱仪
测厚仪
大尺寸镀层测厚仪M2 BLIZZARD
M1 ORA微区X射线荧光光谱仪
涂层测厚仪SURFIX®X系列
涂层测厚仪SURFIX®系列
涂层测厚仪SURFIX®简易系列
便携式涂层测厚仪
涂层测厚仪探头
显微反射膜厚仪MProbe MSP
MProbe NIR薄膜测厚仪
反射膜厚仪MProbe RT
光学仪器及设备
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM select
原子力显微镜MultiMode8
马尔共聚焦显微镜MarSurf CL select
马尔共聚焦显微镜MarSurf CP select
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM mobile
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM expert
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM explorer
3D扫描仪SMARTTECH Criminology
原子力显微镜Dimension FastScan
扫描探针显微镜Innova
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Dektak XT台阶仪
布鲁克光学轮廓仪ContourGT-X
探针式轮廓仪系统Dektak XTL
布鲁克台阶仪-表面轮廓仪
三维表面测量系统NP Flex
光学轮廓仪系统ContourGT-I
光谱检测分析仪
布鲁克/超轻便型直读光谱仪Q2 ION
手持式激光诱导击穿光谱HH-LIBS
布鲁克直读光谱仪/移动火花光谱仪Q4 MOBILE
台式直读光谱仪
布鲁克/直读光谱仪Q8 MAGELLAN
布鲁克/直读光谱仪Q4 TASMAN
元素分析仪
TXRF血液重金属检测
手持贵金属分析仪
碳硫分析仪G5 CRIUS
扩散氢分析仪G4 PHOENIX DH
氧氮氢分析仪G8 GALILEO
农业和食品专用仪器
S1 TITAN布鲁克手持式土壤测定仪/手持XRF分析仪
布鲁克S1 TITAN手持式土壤荧光光谱仪
进口便携式XRF土壤检测仪/手持光谱仪
德国bruker进口布鲁克土壤重金属分析仪
手持式土壤重金属分析仪
比表面积测定仪
漆膜附着力测试
硅片表面形貌测量VIT系列
晶圆厚度测量系统FSM - FSM 413
摩擦磨损仪CETR-UMT
微纳米压痕划痕检测仪CETR-Apex
其他
电荷灵敏前置放大器CUBE
1500V光伏组串检测仪Solar Utility Pro
低真空镀膜仪CCU-O10LV
高真空镀膜仪CCU-O10HV
无损检测/无损探伤仪器
X射线透工业CT
X射线CT系统EasyTomXL
X射线CT系统EasyTom
相关仪表
DANTE数字脉冲处理器
图像扫面仪SmartCIS
钻井信息系统SmartDIS
水质分析
便携式水质重金属检测仪5000
重金属含量检测仪
热分析仪
热重分析仪/差示扫描量热仪DSC8231
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产品系列
同类AFM中具有低的噪音水平和高的分辨率Innova扫描探针显微镜(SPM)具有很高的分辨率,实用性强,从器件表征到物理化学、生命科学、材料科学等方面都有广泛应用。这是一套简易的装置,仪器成本合理,适用于科学研究。Innova具有的闭环扫描线性化系统,测量准确性,而且维持噪音水平接近开环的低噪音水平。
使用Innova检测样品时,从亚微米级的小尺寸样品到高达90微米的大尺寸样品,都可进行实验操作,且获得原子级分辨率,测量不同尺寸样品无需更换扫描器等硬件;替换探针或样品等操作简便易行;集成化高分辨率彩色光学系统和可编程自动化Z轴调节系统,可快速简易地定位到待测区域聚合物材料表征,集成光路测量,材料力学性能表征,MEMS制造,细胞表面形态观察,生物大分子的结构及性质,数据存储,金属/合金/金属蒸镀的性质研究,食品、化学品、护肤品的加工/包装,液晶材料性能表征,分子器件,生物传感器,分子自组装结构,光盘存储,陶瓷工艺,薄膜性能表征,地质、能源、环境等领域高分辨率
Innova的机电设计,包括带有短机械路径和低热漂移的坚固显微镜平台,超低噪音电子器件,都做了优化,具有高分辨率和闭环扫描的组合。利用专li的超低噪音数字闭环线性化扫描,不管扫描尺寸,偏移量,扫描速度或扫描角度的旋转如何设置,对样品均可准确测量,高分辨成像。
性能
Innova 机电设计的方面,包括从带有短机械路径和低温度漂移的坚固显微镜平台到超低噪音电子器件,都做了优化,得到高分辨率性能和闭环扫描的组合。
Innova利用专li的超低噪音数字闭环线性化扫描,达到对尺寸均可准确测量,而不管扫描尺寸,偏移量,扫描速度或扫描角度的旋转如何设置。在90微米到亚微米级成像范围内均可获得高质量图像,并且闭环噪音水平接近开环噪音水平。另外,闭环线性化扫描可以在线启动或关闭。这个惊人的灵活性允许其对全尺寸扫描的任意一部分进行放大至原子分辨率扫描,而不用更换扫描器,且无需从测量表面抬起探针。图像的旋转,图像在成像窗口的位置以及扫描速度都不会影响成像结果。
行业应用:
wu论您的应用是什么—Innova都已准备好:
• 材料科学
• 纳米刻蚀
• 生命科学
• 聚合物
• 器件表征