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X射线仪器
布鲁克S2 PICOFOX全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)
布鲁克艺术与考古分析仪Tracer
微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO
布鲁克手持式矿石分析仪S1 TITAN
超轻元素微区X射线荧光成像光谱仪M4 TORNADO PLUS
Bruker布鲁克便携仪式XRF分析仪CTX
微聚焦荧光光谱仪M6 JETSTREAM
Bruker布鲁克便携式微区X射线荧光光谱仪ARTAX
全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)S4 TStar
Bruker布鲁克废旧金属分析仪/手持光谱仪
测厚仪
大尺寸镀层测厚仪M2 BLIZZARD
M1 ORA微区X射线荧光光谱仪
涂层测厚仪SURFIX®X系列
涂层测厚仪SURFIX®系列
涂层测厚仪SURFIX®简易系列
便携式涂层测厚仪
涂层测厚仪探头
显微反射膜厚仪MProbe MSP
MProbe NIR薄膜测厚仪
反射膜厚仪MProbe RT
光学仪器及设备
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM select
原子力显微镜MultiMode8
马尔共聚焦显微镜MarSurf CL select
马尔共聚焦显微镜MarSurf CP select
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM mobile
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM expert
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM explorer
3D扫描仪SMARTTECH Criminology
原子力显微镜Dimension FastScan
扫描探针显微镜Innova
测量/计量仪器
Dektak XT台阶仪
布鲁克光学轮廓仪ContourGT-X
探针式轮廓仪系统Dektak XTL
布鲁克台阶仪-表面轮廓仪
三维表面测量系统NP Flex
光学轮廓仪系统ContourGT-I
光谱检测分析仪
布鲁克/超轻便型直读光谱仪Q2 ION
手持式激光诱导击穿光谱HH-LIBS
布鲁克直读光谱仪/移动火花光谱仪Q4 MOBILE
台式直读光谱仪
布鲁克/直读光谱仪Q8 MAGELLAN
布鲁克/直读光谱仪Q4 TASMAN
农业和食品专用仪器
S1 TITAN布鲁克手持式土壤测定仪/手持XRF分析仪
布鲁克S1 TITAN手持式土壤荧光光谱仪
进口便携式XRF土壤检测仪/手持光谱仪
德国bruker进口布鲁克土壤重金属分析仪
手持式土壤重金属分析仪
比表面积测定仪
漆膜附着力测试
硅片表面形貌测量VIT系列
晶圆厚度测量系统FSM - FSM 413
摩擦磨损仪CETR-UMT
微纳米压痕划痕检测仪CETR-Apex
元素分析仪
TXRF血液重金属检测
手持贵金属分析仪
碳硫分析仪G5 CRIUS
扩散氢分析仪G4 PHOENIX DH
氧氮氢分析仪G8 GALILEO
其他
电荷灵敏前置放大器CUBE
1500V光伏组串检测仪Solar Utility Pro
低真空镀膜仪CCU-O10LV
高真空镀膜仪CCU-O10HV
相关仪表
DANTE数字脉冲处理器
图像扫面仪SmartCIS
钻井信息系统SmartDIS
无损检测/无损探伤仪器
X射线透工业CT
X射线CT系统EasyTomXL
X射线CT系统EasyTom
水质分析
便携式水质重金属检测仪5000
重金属含量检测仪
热分析仪
热重分析仪/差示扫描量热仪DSC8231
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产品系列
产品描述
DSC
一个拥有*快冷却速度的小型紧凑熔炉。这个由小型紧凑熔炉提供的快速冷却能力与快速气体置换大大缩短了测量之间的等待时间。从而为快速地执行重复性实验提供了一个有效的操作环境。可以安装一个自动进样装置。设计还考虑到可以安装到不同的环境中。
热分析热分析是材料科学的一个分支,随着温度与时间的变化对参与一个反映或转变的材料的物理和化学属性进行研究。分析技术包括热重分析(TG)、差热分析(DTA)、差示扫描量热分析(DSC)和热机械分析(TMA)。
广泛的产品线理学的热分析产品线从品质管理到材料发展满足各种需求。其*的技术和丰富的成就带给热分析一个*的进化,从而在广泛的领域中创建新的应用。
紧凑的高性能理学提供紧凑且高性能的热分析设备,例如动态热重仪、具有非凡加热率和冷却率的DSC工具,使用差示方法进行高精度测量的热应力分析
特性
实现高灵敏度、高性能、低噪音
能够快速进行置换
加热和冷却率提高了测量效率
体现在整个系统上
测量温度范围
DSC8231: -150°到725° (*大750°)
该选购冷却装置可冷却至低于环境温度
惰性气体流要求温度在500°以上