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X射线仪器
布鲁克S2 PICOFOX全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)
布鲁克艺术与考古分析仪Tracer
微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO
布鲁克手持式矿石分析仪S1 TITAN
超轻元素微区X射线荧光成像光谱仪M4 TORNADO PLUS
Bruker布鲁克便携仪式XRF分析仪CTX
微聚焦荧光光谱仪M6 JETSTREAM
Bruker布鲁克便携式微区X射线荧光光谱仪ARTAX
全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)S4 TStar
Bruker布鲁克废旧金属分析仪/手持光谱仪
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大尺寸镀层测厚仪M2 BLIZZARD
M1 ORA微区X射线荧光光谱仪
涂层测厚仪SURFIX®X系列
涂层测厚仪SURFIX®系列
涂层测厚仪SURFIX®简易系列
便携式涂层测厚仪
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光学仪器及设备
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM select
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马尔共聚焦显微镜MarSurf CM mobile
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布鲁克台阶仪-表面轮廓仪
三维表面测量系统NP Flex
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布鲁克/超轻便型直读光谱仪Q2 ION
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布鲁克直读光谱仪/移动火花光谱仪Q4 MOBILE
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布鲁克/直读光谱仪Q8 MAGELLAN
布鲁克/直读光谱仪Q4 TASMAN
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扩散氢分析仪G4 PHOENIX DH
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农业和食品专用仪器
S1 TITAN布鲁克手持式土壤测定仪/手持XRF分析仪
布鲁克S1 TITAN手持式土壤荧光光谱仪
进口便携式XRF土壤检测仪/手持光谱仪
德国bruker进口布鲁克土壤重金属分析仪
手持式土壤重金属分析仪
比表面积测定仪
漆膜附着力测试
硅片表面形貌测量VIT系列
晶圆厚度测量系统FSM - FSM 413
摩擦磨损仪CETR-UMT
微纳米压痕划痕检测仪CETR-Apex
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电荷灵敏前置放大器CUBE
1500V光伏组串检测仪Solar Utility Pro
低真空镀膜仪CCU-O10LV
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相关仪表
DANTE数字脉冲处理器
图像扫面仪SmartCIS
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水质分析
便携式水质重金属检测仪5000
重金属含量检测仪
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热重分析仪/差示扫描量热仪DSC8231
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产品系列
M4 TORNADOPLUS - 微区X射线荧光成像的新纪元
M4 TORNADOPLUS能够检测出C(6)-Am(95)间元素的微区X射线荧光成像光谱仪。
作为微区X射线荧光成像光谱仪M4TORNADO系列的新产品,M4 TORNADOPLUS又增添了功能,例如创新性的孔径管理系统,高通量脉冲处理器以及快速灵活更换的样品台。
更轻、更快、更深
M4 TORNADOPLUS采用超轻元素窗口的大面积硅漂移探测器(SDD)实现对轻元素碳的检测,高通量脉冲可以大程度提升采样速度,BRUKER孔径管理系统(AMS)可以获取大景深,对表面不平整样品分析具有优势。
超轻元素检测
M4 TORNADOPLUS能够检测分析轻质元素碳的微区X射线荧光成像光谱仪,具备两个具有超轻元素窗口的大面积硅漂移探测器和一个优化的Rh靶X射线光管。
与普通微区X射线荧光成像光谱仪不同,M4 TORNADOPLUS在不影响较高能量范围内元素灵敏度的前提下,还可以检测原子数小于11的元素(Z<11),例如氟(F)、氧(O)、氮(N)和碳(C)。
随着功能性的增强,M4 TORNADOPLUS应用也正在开发和拓展中,例如地质学、矿物学、生物学、聚合物研究或半导体行业等方向。
应用实例-萤石和方解石的区分
萤石(CaF2)和方解石(CaCO3)都是以钙为主要成分的矿物。它们的区别在于分别存在轻质元素氟(F),氧(O),碳(C);由于普通微区X射线荧光成像光谱仪检测不到Z<11(Na)的元素,无法区分这两种矿物,所以萤石和方解石的光谱图上都只会显示Ca元素谱线。
利用超轻元素探测器,M4 TORNADOPLUS可以检测氟(F)、氧(O)和碳(C),从而鉴别这两种矿物。
图:鉴别萤石与方解石
左:方解石(红)和萤石(蓝)的元素分布图;图像尺寸:20×12mm2;扫描分辨率:800×460pixels
右:萤石(蓝)和方解石(红)的轻质元素光谱图。
应用实例-电路板
由于AMS的场深度深,如图所示电路板的X射线图像获得更多的细节。此外,由于激发X射线光子的入口和出口角度减小,光束能量依赖性变得不那么明显。
图:具备AMS与不具备AMS的电路板元素分布图
左图: 标准多导毛细管聚焦在电路板上,元件的高点失焦,显得模糊。
右图: AMS系统加载下图像显示高景深,组件聚焦在更大的景深范围内。