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X射线仪器
布鲁克S2 PICOFOX全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)
布鲁克艺术与考古分析仪Tracer
微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO
布鲁克手持式矿石分析仪S1 TITAN
超轻元素微区X射线荧光成像光谱仪M4 TORNADO PLUS
Bruker布鲁克便携仪式XRF分析仪CTX
微聚焦荧光光谱仪M6 JETSTREAM
Bruker布鲁克便携式微区X射线荧光光谱仪ARTAX
全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)S4 TStar
Bruker布鲁克废旧金属分析仪/手持光谱仪
测厚仪
大尺寸镀层测厚仪M2 BLIZZARD
M1 ORA微区X射线荧光光谱仪
涂层测厚仪SURFIX®X系列
涂层测厚仪SURFIX®系列
涂层测厚仪SURFIX®简易系列
便携式涂层测厚仪
涂层测厚仪探头
显微反射膜厚仪MProbe MSP
MProbe NIR薄膜测厚仪
反射膜厚仪MProbe RT
光学仪器及设备
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM select
原子力显微镜MultiMode8
马尔共聚焦显微镜MarSurf CL select
马尔共聚焦显微镜MarSurf CP select
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM mobile
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM expert
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM explorer
3D扫描仪SMARTTECH Criminology
原子力显微镜Dimension FastScan
扫描探针显微镜Innova
光谱检测分析仪
布鲁克/超轻便型直读光谱仪Q2 ION
手持式激光诱导击穿光谱HH-LIBS
布鲁克直读光谱仪/移动火花光谱仪Q4 MOBILE
台式直读光谱仪
布鲁克/直读光谱仪Q8 MAGELLAN
布鲁克/直读光谱仪Q4 TASMAN
测量/计量仪器
Dektak XT台阶仪
布鲁克光学轮廓仪ContourGT-X
探针式轮廓仪系统Dektak XTL
布鲁克台阶仪-表面轮廓仪
三维表面测量系统NP Flex
光学轮廓仪系统ContourGT-I
农业和食品专用仪器
S1 TITAN布鲁克手持式土壤测定仪/手持XRF分析仪
布鲁克S1 TITAN手持式土壤荧光光谱仪
进口便携式XRF土壤检测仪/手持光谱仪
德国bruker进口布鲁克土壤重金属分析仪
手持式土壤重金属分析仪
比表面积测定仪
漆膜附着力测试
硅片表面形貌测量VIT系列
晶圆厚度测量系统FSM - FSM 413
摩擦磨损仪CETR-UMT
微纳米压痕划痕检测仪CETR-Apex
元素分析仪
TXRF血液重金属检测
手持贵金属分析仪
碳硫分析仪G5 CRIUS
扩散氢分析仪G4 PHOENIX DH
氧氮氢分析仪G8 GALILEO
其他
电荷灵敏前置放大器CUBE
1500V光伏组串检测仪Solar Utility Pro
低真空镀膜仪CCU-O10LV
高真空镀膜仪CCU-O10HV
无损检测/无损探伤仪器
X射线透工业CT
X射线CT系统EasyTomXL
X射线CT系统EasyTom
相关仪表
DANTE数字脉冲处理器
图像扫面仪SmartCIS
钻井信息系统SmartDIS
水质分析
便携式水质重金属检测仪5000
重金属含量检测仪
热分析仪
热重分析仪/差示扫描量热仪DSC8231
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产品系列
高分辨成像的业界标杆
应用灵活性,高水平论文的发表
· 高分辨率成像和定量的材料性能成像。
· 提供多模块功能的MultiMode
· 发表论文AFM
· 峰值力模式实现
MultiMode是受欢迎的扫描探针显微镜,得到客户的高度,迄今为止数以万计的MultiMode®扫描探针显微镜已经在成功安装使用。其世届的分辨率,仪器性能,以及得到充分验证的数据,奠定了其在AFM领域的领导地位。
定量成像模式
· Bruker专li的新型成像模式PeakForce QNM,可以对材料纳米尺度的力学性质进行定量检测,在正常的扫描速率下获得高分辨率的材料粘附力和弹性模量图像。与传统的相位成像和某些厂家的多频技术不同的是,使用PeakforceQNM模式可获得、定量的实验数据。
· PeakForce TUNA模块,能够定量测量样品的导电特性,这是传统的导电模式所不能实现的。
· 推出ScanAsyst-HR, 可以在MultiMode8上实现快速扫描模式。与传统的AFM相比,在其速度高6倍时仍不损失图像分辨率,获得分辨的AFM图像。扫描速度,可比传统的AFM高20倍。
具有高的分辨率和测试性能
· 迄今为止,利用MultiMode系列原子力显微镜,已发表大量高水平论文,帮助科学家们解决了
· 诸多重大前沿科研问题。MultiMode8采用结构紧凑的刚性设计,即使样品的测试难度大,测试条件极为苛刻,也能实现低系统噪音,获得分辨率的图像。
· NanoScope®V控制器提供业界系统噪音和带宽,大大高了数据分析能力,适用于更多的研究领域。
· Bruker的Peak Force Tapping® 技术,控制针尖与样品的作用力,可远低于TappingMode所需要的力。
适用于各研究领域
· 大气或者溶液环境中,MultiMode8都能够完成样品检测,以其分辨率和功能,被广泛应用于物理、化学、材料、电子以及生命科学等各个领域。
· 在MultiMode8上可选配温度调节和环境控制附件。加热到250°C,冷却至-35°C,或在水蒸气和氧气含量小于1ppm的手套箱中,都可以实现敏感样品的检测和成像。
· MultiMode8基本操作模式的基础上选配不同功能的附件,可在高分辨成像的同时,获得样品的力学、电学、磁学、热力学等各项性能指标