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布鲁克S2 PICOFOX全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)
布鲁克艺术与考古分析仪Tracer
微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO
布鲁克手持式矿石分析仪S1 TITAN
超轻元素微区X射线荧光成像光谱仪M4 TORNADO PLUS
Bruker布鲁克便携仪式XRF分析仪CTX
微聚焦荧光光谱仪M6 JETSTREAM
Bruker布鲁克便携式微区X射线荧光光谱仪ARTAX
全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)S4 TStar
Bruker布鲁克废旧金属分析仪/手持光谱仪
测厚仪
大尺寸镀层测厚仪M2 BLIZZARD
M1 ORA微区X射线荧光光谱仪
涂层测厚仪SURFIX®X系列
涂层测厚仪SURFIX®系列
涂层测厚仪SURFIX®简易系列
便携式涂层测厚仪
涂层测厚仪探头
显微反射膜厚仪MProbe MSP
MProbe NIR薄膜测厚仪
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光学仪器及设备
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM select
原子力显微镜MultiMode8
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马尔共聚焦显微镜MarSurf CP select
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM mobile
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM expert
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM explorer
3D扫描仪SMARTTECH Criminology
原子力显微镜Dimension FastScan
扫描探针显微镜Innova
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布鲁克/超轻便型直读光谱仪Q2 ION
手持式激光诱导击穿光谱HH-LIBS
布鲁克直读光谱仪/移动火花光谱仪Q4 MOBILE
台式直读光谱仪
布鲁克/直读光谱仪Q8 MAGELLAN
布鲁克/直读光谱仪Q4 TASMAN
测量/计量仪器
Dektak XT台阶仪
布鲁克光学轮廓仪ContourGT-X
探针式轮廓仪系统Dektak XTL
布鲁克台阶仪-表面轮廓仪
三维表面测量系统NP Flex
光学轮廓仪系统ContourGT-I
农业和食品专用仪器
S1 TITAN布鲁克手持式土壤测定仪/手持XRF分析仪
布鲁克S1 TITAN手持式土壤荧光光谱仪
进口便携式XRF土壤检测仪/手持光谱仪
德国bruker进口布鲁克土壤重金属分析仪
手持式土壤重金属分析仪
比表面积测定仪
漆膜附着力测试
硅片表面形貌测量VIT系列
晶圆厚度测量系统FSM - FSM 413
摩擦磨损仪CETR-UMT
微纳米压痕划痕检测仪CETR-Apex
元素分析仪
TXRF血液重金属检测
手持贵金属分析仪
碳硫分析仪G5 CRIUS
扩散氢分析仪G4 PHOENIX DH
氧氮氢分析仪G8 GALILEO
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电荷灵敏前置放大器CUBE
1500V光伏组串检测仪Solar Utility Pro
低真空镀膜仪CCU-O10LV
高真空镀膜仪CCU-O10HV
无损检测/无损探伤仪器
X射线透工业CT
X射线CT系统EasyTomXL
X射线CT系统EasyTom
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DANTE数字脉冲处理器
图像扫面仪SmartCIS
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便携式水质重金属检测仪5000
重金属含量检测仪
热分析仪
热重分析仪/差示扫描量热仪DSC8231
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产品系列
产品描述
PaintCheck可以快速、无损并准确地测量钢、铁、铝和其它有色金属的涂层厚度。
适用范围:
PaintCheck不仅能测量涂层的厚度,也能提供有关涂层结构的有价值信息,例如,顶部涂层或子填料。如果所测量的厚度超过标准涂层,该仪器会识别出维修工作的填料区域或重涂区域,不会对表面造成任何人为损坏或毁坏,无划痕,无磨损。
本仪器使用两个涂层厚度测量原理:磁性和涡电流的方法(DIN EN2178和2360)。这两个方法可以对钢表面以及有色金属,如铝表面的薄涂层提供测量。在定位探头时,PaintCheck可自动选择这两种方法。
优点一览:
· 简易的单键操作 - 开启和测量
· 快速和测量
· 测量范围可达3000微米(PaintCheck增强版)或2000微米(PaintCheck)
· 可测量水平面或稍弯曲的表面
· 无需校准
· 适用于测量铁/钢和有色金属(如铝)
· 自动识别基材
· 测量光滑,漆面区域的内置探头
· 四位字母数字读数
· 用于定位的大接触面积
· 测量记录声音信号
· 可转换:微米/密耳
· 自动关机功能