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X射线仪器
布鲁克S2 PICOFOX全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)
布鲁克艺术与考古分析仪Tracer
微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO
布鲁克手持式矿石分析仪S1 TITAN
超轻元素微区X射线荧光成像光谱仪M4 TORNADO PLUS
Bruker布鲁克便携仪式XRF分析仪CTX
微聚焦荧光光谱仪M6 JETSTREAM
Bruker布鲁克便携式微区X射线荧光光谱仪ARTAX
全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)S4 TStar
Bruker布鲁克废旧金属分析仪/手持光谱仪
测厚仪
大尺寸镀层测厚仪M2 BLIZZARD
M1 ORA微区X射线荧光光谱仪
涂层测厚仪SURFIX®X系列
涂层测厚仪SURFIX®系列
涂层测厚仪SURFIX®简易系列
便携式涂层测厚仪
涂层测厚仪探头
显微反射膜厚仪MProbe MSP
MProbe NIR薄膜测厚仪
反射膜厚仪MProbe RT
光学仪器及设备
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM select
原子力显微镜MultiMode8
马尔共聚焦显微镜MarSurf CL select
马尔共聚焦显微镜MarSurf CP select
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM mobile
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM expert
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM explorer
3D扫描仪SMARTTECH Criminology
原子力显微镜Dimension FastScan
扫描探针显微镜Innova
测量/计量仪器
Dektak XT台阶仪
布鲁克光学轮廓仪ContourGT-X
探针式轮廓仪系统Dektak XTL
布鲁克台阶仪-表面轮廓仪
三维表面测量系统NP Flex
光学轮廓仪系统ContourGT-I
光谱检测分析仪
布鲁克/超轻便型直读光谱仪Q2 ION
手持式激光诱导击穿光谱HH-LIBS
布鲁克直读光谱仪/移动火花光谱仪Q4 MOBILE
台式直读光谱仪
布鲁克/直读光谱仪Q8 MAGELLAN
布鲁克/直读光谱仪Q4 TASMAN
农业和食品专用仪器
S1 TITAN布鲁克手持式土壤测定仪/手持XRF分析仪
布鲁克S1 TITAN手持式土壤荧光光谱仪
进口便携式XRF土壤检测仪/手持光谱仪
德国bruker进口布鲁克土壤重金属分析仪
手持式土壤重金属分析仪
比表面积测定仪
漆膜附着力测试
硅片表面形貌测量VIT系列
晶圆厚度测量系统FSM - FSM 413
摩擦磨损仪CETR-UMT
微纳米压痕划痕检测仪CETR-Apex
元素分析仪
TXRF血液重金属检测
手持贵金属分析仪
碳硫分析仪G5 CRIUS
扩散氢分析仪G4 PHOENIX DH
氧氮氢分析仪G8 GALILEO
其他
电荷灵敏前置放大器CUBE
1500V光伏组串检测仪Solar Utility Pro
低真空镀膜仪CCU-O10LV
高真空镀膜仪CCU-O10HV
相关仪表
DANTE数字脉冲处理器
图像扫面仪SmartCIS
钻井信息系统SmartDIS
无损检测/无损探伤仪器
X射线透工业CT
X射线CT系统EasyTomXL
X射线CT系统EasyTom
水质分析
便携式水质重金属检测仪5000
重金属含量检测仪
热分析仪
热重分析仪/差示扫描量热仪DSC8231
联系方式 |
产品系列
用于工艺质量监控定标性测试系统ContourGT-X是实验室开发到批量生产均可适用的高性能仪器。它积累了前十代产品在白光干涉技术上的创新,实现了快速地三维表面测量,从纳米级粗糙度表面的测量到毫米级台阶的测量,垂直分辨率可达亚纳米级。可编程的XYZ控制和扫描头自动控制,使得仪器操作简便易行。配备的Vision64软件,具有业界仪器测量和数据分析功能,而其优化设计的用户界面为使用者自行定义自动测量和数据分析提供了便利。
ContourGT-X是当今业界先进的白光干涉仪,可用于眼科镜片、医疗器械、高亮度LED、半导体器件、TSV、太阳能电池片、汽车零部件、触摸屏和加工零件等各行业,为用户提供快速、准确地三维非接触式测量。内部激光自校准技术可以自动校准因环境或机械不稳定产生的漂移,无需标准块。大学、研究所,工业领域的LED行业、太阳能行业、触摸屏行业、半导体行业以及数据存储行业、科学研究、产品开发、质量控制及失效分析等领域业界先进的白光干涉仪
ContourGT-X配备倾斜调整支架、全自动X,Y, Z 样品台、自动视场目镜转换台,测试过程更快、更便捷。节省空间高稳定性的基座设计以及与机台集成一体式的防震系统,使系统具有防震性与稳定性。配备新的Vision64软件,具有业界仪器测量和数据分析功能,而其优化设计的用户界面为使用者自行定义自动测量和数据分析提供了便利。
仪器特性:
· 业界标杆,大视场下高的垂直分辨率
· 从0.5x到200x不同放大倍率实现不同面型和织构表面的表征
· 硬件的优化设计进一步提升的仪器抗噪声能力、系统灵活性和测量稳定性
· 激光自校准技术使得仪器间测量数据一致,保证测量的重复性和准确性
· 优异的缝合能力可以对上千个数据无缝拼接,实现样品大面积检测
· 多核处理器和64位软件使数据分析速度提高十倍以上