手机版 |
产品分类 |
X射线仪器
布鲁克S2 PICOFOX全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)
布鲁克艺术与考古分析仪Tracer
微区X射线荧光光谱仪M4 TORNADO
布鲁克手持式矿石分析仪S1 TITAN
超轻元素微区X射线荧光成像光谱仪M4 TORNADO PLUS
Bruker布鲁克便携仪式XRF分析仪CTX
微聚焦荧光光谱仪M6 JETSTREAM
Bruker布鲁克便携式微区X射线荧光光谱仪ARTAX
全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)S4 TStar
Bruker布鲁克废旧金属分析仪/手持光谱仪
测厚仪
大尺寸镀层测厚仪M2 BLIZZARD
M1 ORA微区X射线荧光光谱仪
涂层测厚仪SURFIX®X系列
涂层测厚仪SURFIX®系列
涂层测厚仪SURFIX®简易系列
便携式涂层测厚仪
涂层测厚仪探头
显微反射膜厚仪MProbe MSP
MProbe NIR薄膜测厚仪
反射膜厚仪MProbe RT
光学仪器及设备
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM select
原子力显微镜MultiMode8
马尔共聚焦显微镜MarSurf CL select
马尔共聚焦显微镜MarSurf CP select
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM mobile
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM expert
马尔共聚焦显微镜MarSurf CM explorer
3D扫描仪SMARTTECH Criminology
原子力显微镜Dimension FastScan
扫描探针显微镜Innova
测量/计量仪器
Dektak XT台阶仪
布鲁克光学轮廓仪ContourGT-X
探针式轮廓仪系统Dektak XTL
布鲁克台阶仪-表面轮廓仪
三维表面测量系统NP Flex
光学轮廓仪系统ContourGT-I
光谱检测分析仪
布鲁克/超轻便型直读光谱仪Q2 ION
手持式激光诱导击穿光谱HH-LIBS
布鲁克直读光谱仪/移动火花光谱仪Q4 MOBILE
台式直读光谱仪
布鲁克/直读光谱仪Q8 MAGELLAN
布鲁克/直读光谱仪Q4 TASMAN
农业和食品专用仪器
S1 TITAN布鲁克手持式土壤测定仪/手持XRF分析仪
布鲁克S1 TITAN手持式土壤荧光光谱仪
进口便携式XRF土壤检测仪/手持光谱仪
德国bruker进口布鲁克土壤重金属分析仪
手持式土壤重金属分析仪
比表面积测定仪
漆膜附着力测试
硅片表面形貌测量VIT系列
晶圆厚度测量系统FSM - FSM 413
摩擦磨损仪CETR-UMT
微纳米压痕划痕检测仪CETR-Apex
元素分析仪
TXRF血液重金属检测
手持贵金属分析仪
碳硫分析仪G5 CRIUS
扩散氢分析仪G4 PHOENIX DH
氧氮氢分析仪G8 GALILEO
其他
电荷灵敏前置放大器CUBE
1500V光伏组串检测仪Solar Utility Pro
低真空镀膜仪CCU-O10LV
高真空镀膜仪CCU-O10HV
相关仪表
DANTE数字脉冲处理器
图像扫面仪SmartCIS
钻井信息系统SmartDIS
无损检测/无损探伤仪器
X射线透工业CT
X射线CT系统EasyTomXL
X射线CT系统EasyTom
水质分析
便携式水质重金属检测仪5000
重金属含量检测仪
热分析仪
热重分析仪/差示扫描量热仪DSC8231
联系方式 |
产品系列
用于大件样品和多层膜样品的非破坏分析
M1 MISTRAL是采用X射线荧光技术的光谱仪,可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围:原子序数22号(钛)-92号(铀)中的所有元素。分析的样品类型:各种不同材料,如金属、合金、块体、溶液等。
480×490×200mm3的大腔体支持更大样品的测量。自动X-Y-Z轴程控样品台,大移动范围200×175×80mm,支持自动多点测量。
M1 MISTRAL 是一款紧凑型的台式 μ-XRF 光谱仪,用于分析块状材料和涂层。它的操作速度快、成本效益, 可以提供与材料元素成分有关的准确信息。测定镀层样品厚度及成分例如
Zn-Fe、Ag-Cu、Au-Ni-Cu、Cr-Ni-Cu、Au-Pb-Ni-Cu
珠宝及合金分析: M1 MISTRAL是珠宝、硬币及贵金属的理想分析工具。所有珠宝合金、铂族金属及银制品、不到1分钟就可以确定其准确成分。分析结果可以用百分含量或K(开)表示
M1 MISTRAL是采用X射线荧光技术的光谱仪,可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围:原子序数22号(钛)以上的所有元素。分析的样品类型:各类不同的材料,如金属、合金、金属镀层包括多层镀层样品
样品尺寸*大可达100×100×100mm,无需任何处理,直接放在样品台上检测。
光管位于样品上方,测量过程中部接触样品,因此可以很容易地分析复杂式样的样品,如精工细作的珠宝和不容厚度的样品。
各种应用介绍:
· 通用金属分析
M1 MISTRAL是通用金属镀层分析的理想工具,对紧固件、五金材料、汽车零部件镀层、高精度的机械部件都能进行准确、便捷的分析。
· 电子/PCB
采用X-Ray荧光技术的M1 MISTRAL也可分析薄镀层样品,如印刷电路板、引线框架、圆晶、连接器等,M2 BLIZZARD采用开放腔体,可对大型电路板进行测量。
· 珠宝及合金分析
M1 MISTRAL是珠宝。硬币及贵金属的理想分析工具。所有珠宝合金,30S就可以确定其准确成分。分析结果可以用百分含量或K(开)表示。